膜厚測定,分光測定,分光エリプソメトリー,スペクトル解析のテクノ・シナジー

会社案内

会社概要

商号: 有限会社テクノ・シナジー
  (英語名:Techno-Synergy, Inc.)
所在地: 〒193-0832 東京都八王子市散田町二丁目46番16号
電話番号: 042-667-1992
FAX番号: 042-667-1992
Eメール:
設立: 平成16年5月7日
資本金: 300万円
取引銀行: 多摩信用金庫 散田支店
  三菱東京UFJ銀行 八王子中央支店
代表取締役: 田所 利康

事業内容

  • 1) 精密機器の開発・製造・販売及びその輸出入
  • 2) ソフトウエアの開発・製造・販売及びその輸出入
  • 3) 材料の開発・製造・販売及びその輸出入
  • 4) デバイスの開発・製造・販売及びその輸出入
  • 5) 精密機器及びソフトウエアを用いた測定・分析・解析サービス
  • 6) 上記技術のコンサルティングサービス

会社沿革

2004年05月 有限会社テクノ・シナジー設立(資本金300万円).
2004年05月 W. Theiss、Hard- and Software社の日本代理店としてソフトウエアの輸入販売開始.
2004年06月 ジェー・エー・ウーラム・ジャパン(株)の代理店として分光エリプソメーター販売開始.
2004年06月 分光スペクトル測定解析サービス業務を開始.
2004年06月 株式会社オプトクエストと代理店契約を締結.
2004年08月 有機太陽電池パラメーターアナライザーを(株)ユニソクと共同開発,販売開始.
2005年01月 高輝度照射分光システムを分光計器(株)と共同開発,販売開始.
2005年03月 精密反射率測定システムをナノフォトン(株)と共同開発,産業技術総合研究所に納入.
2005年09月 ナノフォトン(株)と代理店契約を締結.
2005年10月 偏光コントローラーを開発,東京工業大学に納入.販売開始.
2006年04月 光ディスク温度測定装置を分光計器(株)と共同開発,産業技術総合研究所に納入.
2006年07月 偏光制御型透過赤外共焦点レーザー顕微鏡システムをナノフォトン(株)と共同開発,産業技術総合研究所に納入.
2007年04月 光学膜厚測定システム DF-1042シリーズを開発,販売開始.
2009年03月 顕微光学膜厚測定システムを開発,販売開始.
2009年10月 広帯域光ファイバーコリメーターBBFC-02SMAを開発,販売開始.
2011年10月 顕微分光システム DF-1037シリーズを開発,販売開始.
2016年10月 光学膜厚測定システム DF-1045シリーズを開発,販売開始.
2017年07月 分光反射率測定用簡易サンプルステージ SS-Rシリーズを開発,販売開始.
2018年10月 ECLIPSE用自動回転検光子ユニット ERAU-01を開発,販売開始.
2019年10月 屈折率計用画像モニターシステムを開発,販売開始.
2020年07月 スペクトル測定ソフトウエア Spectra JB をアップデート.Spectra JB2 を販売開始.
2022年04月 反射率測定システムDF-1049Rを開発,販売開始.
2023年09月 広帯域光ファイバーコリメーターBBFC-03SMAを開発,販売開始.
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