2004年05月 |
有限会社テクノ・シナジー設立(資本金300万円). |
2004年05月 |
W. Theiss、Hard- and Software社の日本代理店としてソフトウエアの輸入販売開始. |
2004年06月 |
ジェー・エー・ウーラム・ジャパン(株)の代理店として分光エリプソメーター販売開始. |
2004年06月 |
分光スペクトル測定解析サービス業務を開始. |
2004年06月 |
株式会社オプトクエストと代理店契約を締結. |
2004年08月 |
有機太陽電池パラメーターアナライザーを(株)ユニソクと共同開発,販売開始. |
2005年01月 |
高輝度照射分光システムを分光計器(株)と共同開発,販売開始. |
2005年03月 |
精密反射率測定システムをナノフォトン(株)と共同開発,産業技術総合研究所に納入. |
2005年09月 |
ナノフォトン(株)と代理店契約を締結. |
2005年10月 |
偏光コントローラーを開発,東京工業大学に納入.販売開始. |
2006年04月 |
光ディスク温度測定装置を分光計器(株)と共同開発,産業技術総合研究所に納入. |
2006年07月 |
偏光制御型透過赤外共焦点レーザー顕微鏡システムをナノフォトン(株)と共同開発,産業技術総合研究所に納入. |
2007年04月 |
光学膜厚測定システム DF-1042シリーズを開発,販売開始. |
2009年03月 |
顕微光学膜厚測定システムを開発,販売開始. |
2009年10月 |
広帯域光ファイバーコリメーターBBFC-02SMAを開発,販売開始. |
2011年10月 |
顕微分光システム DF-1037シリーズを開発,販売開始. |
2016年10月 |
光学膜厚測定システム DF-1045シリーズを開発,販売開始. |
2017年07月 |
分光反射率測定用簡易サンプルステージ SS-Rシリーズを開発,販売開始. |
2018年10月 |
ECLIPSE用自動回転検光子ユニット ERAU-01を開発,販売開始. |
2019年10月 |
屈折率計用画像モニターシステムを開発,販売開始. |
2020年07月 |
スペクトル測定ソフトウエア Spectra JB をアップデート.Spectra JB2 を販売開始. |
2022年04月 |
反射率測定システムDF-1049Rを開発,販売開始. |
2023年09月 |
広帯域光ファイバーコリメーターBBFC-03SMAを開発,販売開始. |