分光システム
顕微分光システム DF-1037シリーズ (特注対応)
DF-1037シリーズは,ユーザーの高度な測定ニーズに合わせた特注顕微鏡システムの構築が可能です.高性能な分光システム,高機能な顕微鏡システム,高度なスペクトル解析ソフトウエアと,ご要求に合わせたメカ設計/光学設計をトータルに融合させることで,市販品の改造では得られないハイスペックと使い勝手を実現します. |
» 膜厚測定製品:顕微分光システム DF-1037シリーズ 詳細を見る
顕微PL分光システム DF-1037シリーズ (特注対応)
DF-1037シリーズは,反射スペクトル測定,透過スペクトル測定はもちろん,フォトルミネッセンス(Photoluminescence)測定に対応します.UV-LED(波長:365nm)光源ユニットで励起し,390nmから可視光全域のフォトルミネッセンスを測定することができます.励起波長,発光測定波長領域などの仕様をご相談ください.最適な顕微PL分光システムを提案いたします. |
紫外レーザー励起PL分光システム PL-325S (特注対応)
PL-325Sは,HeCdレーザー(波長:325nm)を励起光源とした特注のフォトルミネッセンス(Photoluminescence)測定システムです.測定サンプル,励起波長,発光測定波長領域など,ご希望の仕様をご相談ください.最適なPL分光システムを提案いたします. |
Cマウント接続顕微分光器 CM-50TS
イメージング分光器 MK-300
紫外用イメージング分光器 CLP-105UV
カメラレンズ分光器 CLP-400
分光計器株式会社製 CLP-400は,F/2.8の明るさとシャープな結像性能を両立させた分光器です.CCD受光面に入射スリット像が忠実に結像されるため,バンドル型光ファイバーを用いた多点分光計測,2次元イメージ分光に最適です.焦点距離100mmのCLP-100から焦点距離400mmのCLP-400まで,ラインナップは4タイプです. |
|
真空紫外ポリクロメータ KV-201P
分光計器株式会社製 KV-201Pは,真空紫外域 (120 nm ~ 300 nm) における高速スペクトル測定が行える窒素パージタイプの分光器です.新設計収差補正型分光器により,従来の瀬谷波岡型分光器では実現できない高い波長分解が得られます.また,光学素子の真空紫外最適化設計も新規に行った結果,光量のアップ,迷光の低減に成功しました.エキシマランプや各種発光のスペクトルモニター,各種チャンバへの取り付けに最適な真空紫外ポリクロメータです. |
|