膜厚測定,光学定数測定,複素屈折率・複素誘電率シミュレーションのテクノ・シナジー

分光システム

高濃度・低反射測定用分光光度計 SSP-1
高濃度・低反射測定用分光光度計 SSP-1
分光計器株式会社製
SSP-1は,光をほとんど透過しない各種試料やフィルタの吸光度を,0 ~ 7Abs の範囲で精度良く測定できる分光光度計です.生体計測や果実の非破壊検査などに応用できます.また,反射率0.01 ~ 0.05%程度の反射防止膜の評価にも有効です.
  • 測光方式: シングルビーム オートロックイン方式
  • 波長範囲: 250 ~ 1100nm
  • 測光範囲: 0 ~ 7Abs

真空紫外ポリクロメータ KV-201P
真空紫外ポリクロメータ KV-201P
分光計器株式会社製
KV-201Pは,真空紫外域 (120 nm ~ 300 nm) における高速スペクトル測定が行える窒素パージタイプの分光器です.新設計収差補正型分光器により,従来の瀬谷波岡型分光器では実現できない高い波長分解が得られます.また,光学素子の真空紫外最適化設計も新規に行った結果,光量のアップ,迷光の低減に成功しました.エキシマランプや各種発光のスペクトルモニター,各種チャンバへの取り付けに最適な真空紫外ポリクロメータです.
  • 波長範囲: 120 ~ 300nm
  • 同時測定: 約20nm
  • 波長分解: 0.1nm(FWHM)
  • CCD 検出器: DV420(MgF2窓付,アンドール製)

蛍光量子収率測定装置
蛍光量子収率測定装置
分光計器株式会社製
PL素子などに用いる発光材料の開発では,量子効率は最も重要な測定項目の一つです.大型積分球搭載CCD分光システムの採用により,短時間で正確な量子効率を求められます. また,フォトルミネッセンス(PL),エレクトロルミネッセンス(EL)の両測定に対応しているので,幅広い発光材料開発にお使いいただけます.
  • 測定項目:フォトルミネッセンス(PL),エレクトロルミネッセンス(EL)
  • 測定モード: PL:DCモード  EL:DCモード,ACモード
  • 測定方式: 積分球式CCD分光システム
  • 感度補正: 標準光源を使用
  • 感PL励起光源: 分光器付Xe光源

カスタムメイド分光システム
カスタムメイド分光システム
光源,分光器,検出器,集光系,ステージ,ソフトウエアなどを組み合わせて,レーザー励起分光,顕微分光,照射分光,偏光分光など,ご要求に合わせた分光システムの構築が可能です.お望みの測定目的,光学配置,波長範囲,分解能,ご要求感度(光強度),ビームスポット径,ステージ仕様などをお教えください.最適な分光システムを提案させていただきます.

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