顕微分光システム

顕微分光システムDF-1037シリーズを使用して，測定スポット径約φ2µm〜φ100µmにおける可視領域（約400nm ～950nm）における顕微分光測定が可能です．対応可能な測定モードは，透過スペクトル，反射スペクトル，偏光透過スペクトル，偏光反射スペクトル，フォトルミネッセンススペクトルなどです（測定波長領域は，測定モード，サンプル状態により変わります）．反射スペクトル測定の場合，顕微干渉分光法を用いて，サンプル膜厚，光学定数を求めることができます．また，サンプル上の分光測定領域をデジタル画像で記録することが可能です．

分光エリプソメーター

回転補償子型分光エリプソメーター（J. A. Woollam社製）を使った膜厚測定サービスです．薄膜サンプルや複雑な層構造を持つサンプルの膜厚，光学定数測定には，分光エリプソメトリーが力を発揮します．半導体の電子分極領域の解析に必要なディープUV領域から，有機物のキャラクタリゼーション，半導体不純物キャリア濃度測定に有効なIR領域に至る全ての波長帯における測定・解析に対応いたします．J. A. Woollam製多入射角高速分光エリプソメーターを用いることで，多層膜サンプル，光学異方性サンプル，屈折率傾斜膜サンプルなどの高度な解析要求にお答えします．薄膜測定でお困りでしたら，ご相談ください．最適な解析ソリューションを提案させていただきます.
※ 温調測定，溶液セル測定は，装置受注後に受託可能な測定です．

スペクトル解析

40年以上に渡る分光システム開発，光計測装置開発，分光エリプソメーター開発，各種光学アプリケーション開発などの豊富な経験を活かし，あなたのスペクトル解析をお手伝いします．透過率スペクトル，反射率スペクトル，吸収スペクトル，分光エリプソデータなどの測定スペクトルに対して，光学モデルシミュレーションをベースにしたスペクトルフィッティング解析を行います．「分光光度計の測定スペクトルから膜厚を決定したい」，「分光光度計は所有しているが，スペクトル解析の仕方が分からない」，「スペクトルから光学定数を求めたい」など分光解析でお困りでしたらご連絡ください．