テクノシナジーは，あなたに最適な光計測ソリューションを提供します.
膜厚測定，光学定数測定，複素屈折率・複素誘電率シミュレーション，スペクル解析，3D分光レイトレーシング，分光エリプソメーター，分光システム，共焦点顕微計測システム，走査型プローブ顕微鏡，高性能光学素子，偏光制御など・・・ テクノ・シナジーは，光計測・分光解析のあらゆるシーンで最適な製品や技術を提供し，皆様のご要望にお応えします．| 広帯域光ファイバーコリメーター BBFC-02SMA | |
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可視領域の分光測定用に最適設計された広帯域光ファイバーコリメーターです. 波長帯域350 nm〜1100 nmをカバーする2群3枚構成の色収差補正, 広帯域ARコーティングにより, USB4000などのファイバーマルチチャンネル分光器の測定波長域全体に渡ってフラットで高い結合効率を実現しています. 先端部のスクリュー (M11, P=0.5) を使ってホルダーなどに固定することができ, SMAコネクタを介して光ファイバーと接続して様々な分光光学系でお使いいただけます. 製品ページへ |
What's new！
■ 2010年9月15日：
第71回応用物理学学術講演会（長崎大学文教キャンパス）で発表します．津留俊英, 久保田義人, 田所利康, 川畑州一：「振幅分割型分光ポラリメーターの入射偏光特性評価」, 15a-NK-4.
>> 第71回応用物理学学術講演会プログラム（暫定）：分科：3.光 3.4計測光学（外部サイト）
■ 2010年9月6〜8日：
日本液晶学会討論会で発表します．1）田所利康, 堤浩一, 鈴木道夫：「分光エリプソメトリーを用いた位相差フィルムの複屈折解析」日本液晶学会討論会 (2010) 九州大学, 1c12.
2）津留俊英, 久保田義人, 田所利康, 川畑州一：「振幅分割型ポラリメーターの分光偏光計測への応用」日本液晶学会討論会 (2010) 九州大学, PA08.
3）吉田真史, 田所利康, 奥本恵隆：「メゾスコピックな光学モデルを用いた液晶自己保持膜の光学応答解析」日本液晶学会討論会 (2010) 九州大学, PB09.
>> 2010年日本液晶学会討論会のお知らせ（外部サイト）
■ 2010年7月22〜24日：
日本液晶学会：液晶サマースクール2010で講師をしました．講義２「物質中で光はどのようにふるまうか」 田所利康（テクノシナジー）
>> 2010年 日本液晶学会サマースクール（外部サイト）
■ 2010年3月：
月刊誌「光技術コンタクト」3月号に解説記事が掲載されました．田所利康：分光エリプソメトリーの基礎と応用, 光技術コンタクト, 48, 3 (2010) pp.17-23.
http://www.joem.or.jp/back_number.htm#2010-3（外部サイト）
