膜厚測定,光学定数測定,複素屈折率・複素誘電率シミュレーションのテクノ・シナジー

テクノ・シナジーは,最適な光計測ソリューションを提供します.

膜厚測定,光学定数測定,複素屈折率・複素誘電率シミュレーション,スペクル解析,3D分光レイトレーシング,分光エリプソメーター,分光システム,共焦点顕微計測システム,走査型プローブ顕微鏡,高性能光学素子,偏光制御など・・・ テクノ・シナジーは,光計測・分光解析のあらゆるシーンで最適な製品や技術を提供し,皆様のご要望にお応えします.

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■ 2011年12月13日~15日:
ナノフォトニクス工学推進機構ナノフォトニクス塾2011で講義しました.
田所利康:「光学入門」-- 光の性質を知ろう --
開催場所:東京大学本郷キャンパス 山上会館(講義),シグマ光機展示場(実習)
ナノフォトニクス塾2011パンフレット (外部サイト)
■ 2011年11月18日:
日本画像学会 第20回フリートーキング “Imaging Today”「材料分析技術」で講演しました.
田所利康:「分光エリプソメトリー:基礎から応用まで」
開催場所:東京工業大学 すずかけ台キャンパス すずかけホール
日本画像学会ホームページ (外部サイト)
■ 2011年10月:
顕微分光システム DF-1037シリーズをリリースしました. >> 製品ページへ
■ 2011年10月10日:
論文が出版されました.
田所利康:「分光エリプソメトリー:基礎から応用まで」, 日本画像学会誌, 第50巻, 第5号 (2011) pp.439-447.
■ 2011年9月:
論文が出版されました.
H. Shima, K. Tsutsumi, M. Suzuki, T. Tadokoro, H. Naganuma, T. Iijima, K. Nishida, T. Yamamoto, T. Nakajima and S. Okamura: "Themooptic Property of Polycrystalline BiFeO3 Film", Jpn. J. Appl. Phys., 50 (2011) pp.09NB02-1-4.
■ 2011年9月1日:
第58回応用物理学関係連合講演会で発表しました.
桑原正史,遠藤理恵,堤浩一,森笠福好,深谷俊夫,須佐匡裕,鈴木道夫,遠藤智義,田所利康:「高温熔融Sb2Te3の屈折率測定」, 第72回応用物理学会学術講演会 (2011) 山形大学, 1p-ZJ-1.
■ 2011年8月:
論文が出版されました.
A. Yamamoto, T. Miwa, M. Kawai, T. Tadokoro, K. Tsutsumi, T. Sato, S. Kodama, and K. Hayakawa: "Development of a Variable-wavelength Optical Rotation Detector in the Ultraviolet Region", Anal. Sci., 27 (2011) pp.799-803.
Abstract − Analytical Sciences, 27, 799 (2011). (外部サイト)
※本論文は,Analytical Sciences誌"Hot Article Award Analytical Sciences"を受賞しました.
■ 2011年7月:
ホームページをリニューアルしました.
■ 2011年6月:
論文が出版されました.
T. Tsuru, Y. Kubota, T. Tadokoro, S. Kawabata: "Development of spectroscopic transmission-type four detector polarimeter", Thin Solid Films, 519 (2011) pp.2707-2710.
ScienceDirect (外部サイト)
■ 2011年3月24日:
第58回応用物理学関係連合講演会で発表しました.
桑原正史,遠藤理恵,堤浩一,森笠福好,深谷俊夫,須佐匡裕,鈴木道夫,遠藤智義,田所利康:「高温熔融状態のカルコゲナイド光学定数測定装置の開発」, 第58回応用物理学関係連合講演会 (2011) 神奈川工科大学, 24a-KA-1.
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